Misurazione d'impatto come leva strategica


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Misurazione d'impatto come leva strategica

Presentazione del caso STMicroelectronics Foundation

Milano, Unviersità Cattolica
26 giugno 2018 |  Ore 14.30-16.30


Martedì 26 giugno 2018
Ore 14.30 – 16.30 (accrediti ore 14.00)

ALTIS Università Cattolica | Via San Vittore, 18 - Milano

Aula degli Stucchi, SV013

iscrizioni disponibili a breve


L’incontro vuole proseguire l'approfondimento della tematica della misurazione d'impatto, iniziato con il precedente incontro del 18 aprile 2018. In questa occasione, l'incontro è dedicato a presentare la metodologia e i risultati del percorso di analisi e coinvolgimento svolto da parte di STMicroelectronics Foundation.

STMicroelectronics Foundation nasce nel 2001 da STMicroelectronics, leader nel settore delle tecnologie digitali - in particolare nella fornitura di soluzioni per semiconduttori – con la vocazione per la creazione di strumenti che apportino un contributo positivo alla vita delle persone, oggi e nel futuro.

Nel 2003 STMicroelectronics Foundation diventa operativa e si pone l’obiettivo di colmare il divario digitale tra le persone più svantaggiate ovunque nel mondo. Per realizzare questa missione, la Fondazione sovvenziona e segue l’organizzazione di corsi di apprendimento informatico in 18 paesi del mondo.

Il Digital Unify Program (DUP) ha così raggiunto, nel giro di 15 anni, alcuni dei paesi più poveri del mondo, portando in queste realtà una conoscenza e delle competenze fino ad allora inesplorate.

Giunti al tredicesimo anno del DU Program (2016), STMicroelectronics Foundation ha sentito l’esigenza di interrogarsi in maniera approfondita sull’andamento del progetto, per valutare l’efficacia e l’efficienza della missione svolta, e anche per poter mettere in campo nuove strategie che rendano l’impegno sempre più incisivo all’interno delle società in cui operano. Consapevole che la misurazione dell’impatto richiede competenze specifiche e strutturate, la Fondazione chiesto ad ALTIS di affiancarla in questo lavoro.

Il workshop è un'occasione per scoprire i vantaggi della misurazione d'impatto da un punto di vista strategico, attraverso l'analisi di un caso concreto.


Agenda

14.00
Accreditamenti
 
14.30
Saluti istituzionali 

15.00
Interventi

Giovanna Bottani | Operations Senior Consultant STMicroelectronics Foundation

Valentina Langella | Esperta di misurazione di impatto, Project Manager ALTIS


Contatti

Valentina Langella
valentina.langella@unicatt.it
ALTIS Università Cattolica 
+39 027234.5177

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